Le spectrophotomètre Ci4200 X-Rite mesure en réflexion selon une géométrie diffuse 8°, mesure avec et sans la composante spéculaire SCI/SCE en simultanée, ouverture de lecture 8 mm, mesure de la brillance, connexion USB, bras de présentation porte échantillon.
Ce Spectrocolorimètre Ci4200 à sphère XRite est compact, rapide en lecture et précis. Il est idéal pour un environnement de production.
Position vertical ou horizontal, option Filtre UV, LED d'indication de la mesure.